KLIK do głównej strony LABSOFTu

KLIK - do strony macierzystej firmy SENTECH.


tester grubości
elipsometry punktowe
elipsometry spektralne
klienci
pomoc aplikacyjna

Firma SENTECH z Berlina  jest producentem wysokiej klasy urządzeń do pomiarów cienkich warstw, a także technologii procesów plazmowych - urządzeń do reaktywnego trawienia jonowgo.  




Reflektometryczny tester grubości warstw FTP-500 (film thickness probe).

FTP-500 w konfiguracji bez mikrokopu, wolnostojąca głowica pomiarowa

 . Urządzenie pozwala na pomiar grubości warstw przezroczystych lub półprzezroczystych na odbijającym podłożu metodą reflektometryczną.  Zbudowane jest w formie przystawki do dowolnego mikroskopu optycznego. Za pomocą światłowodu sygnał doprowadzony jest do karty sterującej umieszczonej w komputerze PC, a  wyniki dostępne sa poprzez załaczone, przyjazne  oprogramowanie. 

 

Podstawowe parametry testera  FTP:

- czas akwizycji danych 
- czas generacji wyniku pomiaru
- zakres grubości mierzonych warstw
- dokładność pomiaru:
- wielkość plamki pomiarowej
100ms
0,5 sek
50-20000 nm
1 nm
z obiektywem 10x - 20 mikron, bez mikroskopu - 5mm
Przyjazny software pomiarowy... Wygodne i przejrzyste oprogramowanie pod Windows  pozwala kontrolować wszelkie parametry pomiarowe oraz prezentować szybko i czytelnie wyniki.



Elipsometr SE-400  - punktowy - z jedną długością fali.  Elipsometry punktowe  SE-400

i unikat w skali światowej - kombinacja w jednym elipsometr i reflektometr CER-500

  

Elipsometr spektralny SE-850  Elipsometry spektralne SE-850:
 

 

 


DOWNLOAD
- tu można ściągnąć niektóre noty aplikacyjne i informacje (format PDF - Acrobat Reader) 

 

 

Pomoc aplikacyjna zdalna i na miejscu udzielana przez fachowców:

 

ZAPRASZAMY, POLECAMY !!